晶体 焓标准

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晶体 焓标准

2023-08-12 09:15| 来源: 网络整理| 查看: 265

晶体 焓

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国际标准分类中,晶体 焓涉及到光电子学、激光设备、半导体材料、分析化学、无机化学、核能工程、物理学、化学、化工产品、力、重力和压力的测量、玻璃、金属材料试验、绝缘材料、光学和光学测量、频率控制和选择用压电器件与介质器件、太阳能工程、工业炉、非金属矿、杀虫剂和其他农用化工产品、电子元器件综合、电池和蓄电池、绝缘流体、电子显示器件、粘合剂和胶粘产品、辐射测量、词汇、半导体分立器件、有色金属、陶瓷、消防、燃料、金属的腐蚀、教育、能源和热传导工程综合、空气质量、试验条件和规程综合、辐射防护、计量学和测量综合、电工器件、糖、糖制品、淀粉、医疗设备、航空航天用电气设备和系统、电子设备用机械构件、电影、涂料配料、土质、土壤学、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、微生物学、长度和角度测量、滤波器、航空航天制造用材料、手持工具、航空器和航天器综合、金属生产、粒度分析、筛分、小型船、字符符号、技术制图、电学、磁学、电和磁的测量、食品试验和分析的一般方法、集成电路、微电子学、切削工具、实验室医学、塑料、黑色金属、航空航天发动机和推进系统、金属矿、建筑材料、钟表学、特殊工作条件下用电气设备、电磁兼容性(EMC)、摄影技术、无屑加工设备、紧固件、地面服务和维修设备。

在中国标准分类中,晶体 焓涉及到人工晶体、元素半导体材料、电化学、热化学、光学式分析仪器、核探测器、工业气体与化学气体、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、工业技术玻璃、仪器、仪表用材料和元件、特种玻璃、半金属与半导体材料综合、电子技术专用材料、半金属及半导体材料分析方法、电工绝缘材料及其制品、基础学科综合、石英晶体、压电元件、激光器件、金属物理性能试验方法、金属化学性能试验方法、太阳能、工业电热设备、物理电源、合成材料综合、农药、金属无损检验方法、时间、频率计量、、金相检验方法、滤波器、延迟线、、、、、、、、、稀土金属及其合金、、、教学专用仪器、、电站、电力系统运行检修、、能源综合、标准化、质量管理、、、辐射防护与监测综合、化学试剂综合、电力半导体器件、部件、、、物理学与力学、放射卫生防护、眼科与耳鼻咽喉科手术器械、医用光学仪器设备与内窥镜、电子元器件、放映设备及其配件、连接器、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、涂料、固体废弃物、土壤及其他环境要素采样方法、土壤、水土保持、土壤环境质量分析方法、半金属、开关、X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、炭素材料、燃料油、医学、犯罪鉴定技术、金属化学分析方法综合、航空与航天用金属铸锻材料、放大镜与显微镜、电动工具、半导体光敏器件、炭素材料综合、环境条件、化工机械与设备综合、电源综合、基础标准和通用方法、光电子器件综合、其他、小型船专用装备、电子光学与其他物理光学仪器、调味品、航空、航天材料基础标准、术语、符号、核材料、核燃料及其分析试验方法、控制继电器、基础标准与通用方法、半导体集成电路、磨料与磨具、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、职业病诊断标准、电子束管、计算机应用、商业、贸易、合同、矫形外科、骨科器械、中国药典及成册药品标准、基础标准与通用方法、通用电子测量仪器设备及系统、电子元件综合、半导体分立器件综合、农、牧、副、渔用汽车、半导体三极管、航天器用能源设备、热学计量、、半导体二极管、粘结材料、时间计量仪器、标准化、质量管理、电容器、计量综合、无线电计量、标准化、质量管理、电工材料和通用零件综合、照相级化学药品、感光材料、波导同轴元件及附件、建筑玻璃、紧固件、地面测试设备、继电器、斩波器、技术管理、教育、学位、学衔、半导体整流器件、电子试验用仪器设备、基础标准与通用方法。

国家质检总局,关于晶体 焓的标准 GB/T 42257-2022 铬铒共掺钇钪镓石榴石晶体光学及激光性能测量方法GB/T 36289.2-2018 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第2部分:氟塑料薄膜GB/T 6495.11-2016 光伏器件 第11部分:晶体硅太阳电池初始光致衰减测试方法GB/T 10067.34-2015 电热装置基本技术条件 第34部分:晶体管式高频感应加热装置GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量GB/T 31034-2014 晶体硅太阳电池组件用绝缘背板GB/T 29195-2012 地面用晶体硅太阳电池总规范GB/T 3352-2012 人造石英晶体.规范与使用指南GB/T 12273.501-2012 石英晶体元件.电子元器件质量评定体系规范.第5.1部分:空白详细规范.鉴定批准GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法GB/T 24370-2009 硒化镉量子点纳米晶体表征.紫外-可见吸收光谱方法GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具GB/T 7896-2008 人造光学石英晶体试验方法GB/T 7895-2008 人造光学石英晶体GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法GB 9558-2001 晶体乐果GB/T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量GB/T 9535-1998 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法GB/T 16863-1997 晶体折射率的试验方法GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法GB/T 12273-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分;总规范GB/T 16517-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分;分规范 鉴定批准GB/T 6628-1996 人造石英晶体制材GB/T 16516-1996 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分;分规范 能力批准GB/T 6495.4-1996 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法GB/T 3353-1995 人造石英晶体使用指南GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法GB/T 3352-1994 人造石英晶体GB/T 15020-1994 电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平EGB/T 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法GB/T 14077-1993 双折射晶体和偏振器件测试规范GB/T 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量经向变化测量方法GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语GB/T 11295-1989 激光晶体棒型号命名方法GB/T 11114-1989 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法GB/T 11297.12-1989 电光晶体、铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测定方法GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱GB/T 8553-1987 晶体盒总规范GB/T 7896-1987 人造光学石英晶体试验方法GB/T 7895-1987 人造光学石英晶体GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB 6430-1986 晶体盒型号命名方法GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名GB/T 3351~353-1982 人造石英晶体国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于晶体 焓的标准 GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T 40381-2021 激光窗口用蓝宝石晶体板状材料规范GB/T 40291-2021 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法GB/T 39867-2021 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体GB/T 5832.4-2020 气体分析 微量水分的测定 第4部分:石英晶体振荡法GB/T 21296.5-2020 动态公路车辆自动衡器 第5部分:石英晶体式GB/T 37896-2019 轻质晶体硅光伏夹层玻璃GB/T 37398-2019 氟化钡闪烁晶体GB/T 37240-2018 晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法GB/T 36289.1-2018 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第1部分:聚酯薄膜中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于晶体 焓的标准 GB/T 36081-2018 纳米技术 硒化镉量子点纳米晶体表征 荧光发射光谱法GB/T 22319.9-2018 石英晶体元件参数的测量 第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法GB/T 35118-2017 掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法GB/T 35316-2017 蓝宝石晶体缺陷图谱GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法GB/T 12273.1-2017 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局,关于晶体 焓的标准 GB/T 9558-2001 晶体乐果行业标准-农业,关于晶体 焓的标准 GB 9558-1988 乐果原粉及晶体乐果67兽药质量标准汇编(2006至2011年)-2012 进口兽药标准 头孢噻呋晶体注射液中国团体标准,关于晶体 焓的标准 T/FSI 121-2023 绝缘栅双极型晶体管用有机硅凝胶T/SCS 000021-2023 i-线光刻级氟化钙晶体元件T/CSTM 00463-2023 N型晶体硅黑环光伏电池分类T/CPIA 0048.1-2022 产线用晶体硅标准光伏电池制作指南 第 1 部分:同质结晶体硅光伏电池T/CPIA 0043-2022 晶体硅光伏组件报废指南T/CPIA 0003-2022 地面用晶体硅光伏组件外形尺寸及安装孔技术要求T/CPIA 0045-2022 晶体硅太阳电池电流-电压特性产线测量操作指南T/CPIA 0046-2022 晶体硅光伏组件用定位胶带T/CPIA 0041-2022 晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法T/ZZB 2854-2022 晶体硅太阳电池组件用耐紫外线绝缘聚酯薄膜T/CSTM 00316-2022 光电晶体 热释电红外探测用钽酸锂晶体T/CAB 0180-2022 GAGG晶体及晶片阵列性能测量方法T/ZPP 020-2022 音叉晶体谐振器技术条件T/ZJCX 0021-2022 汽车电子用石英晶体谐振器T/CSTM 00584-2022 建筑用晶体硅光伏屋面瓦T/CSTM 00461-2022 晶体硅光伏电池电极剥离强度测试方法T/CSTM 00464-2022 晶体硅光伏组件室内热斑耐久性测试T/CSTM 00463-2022 N型晶体硅黑环光伏电池分类T/CSTM 00465-2022 晶体硅光伏电池湿热衰减测试方法T/CPIA 0034-2022 晶体硅光伏组件用局部边框技术要求T/CPIA 0037-2022 光伏晶体硅片规范T/CPIA 0002-2022 晶体硅光伏组件回收再利用通用技术要求T/CEC 538-2021 光伏发电站晶体硅光伏组件选型技术规范T/CEC 537-2021 晶体硅光伏组件用反光贴膜技术规范T/CEC 536-2021 晶体硅光伏组件加严序列测试方法T/CPIA 0030.3-2021 晶体硅光伏电池用浆料 第3部分:正面银浆 烧结型银浆T/CPIA 0030.2-2021 晶体硅光伏电池用浆料 第2部分:背面银浆 烧结型银浆T/CPIA 0030.1-2021 晶体硅光伏电池用浆料 第1部分:背场铝浆 烧结型铝浆T/SZBX 061-2021 低衰减晶体硅光伏组件T/CECA 50-2021 石英晶体元器件用导电胶粘剂T/CECA 48-2021 石英晶体微天平晶片T/CSTM 00260-2021 屋面晶体硅光伏与压型钢板构件防火等级试验方法T/ZZB 1735-2020 晶体硅太阳电池组件用高阻隔绝缘背板T/CSTM 00036-2020 铈掺杂铝镓酸钆闪烁晶体T/CSTM 00035-2020 铈掺杂硅酸钇闪烁晶体T/CSTM 00032-2020 铈掺杂硅酸钇镥闪烁晶体阵列T/IMAS 019-2020 地面用晶体硅太阳电池组件检验规范T/IMAS 020-2020 地面用晶体硅太阳电池检验规范T/CPIA 0020-2020 晶体硅光伏电池电致发光测试方法T/ZZB 1372-2019 地面用晶体硅单面双玻光伏组件T/CEC 287-2019 背接触晶体硅光伏电池技术要求T/CEC 288-2019 背接触晶体硅光伏组件技术要求T/CPIA 0012-2019 晶体硅光伏标准组件制作和使用指南T/CPIA 0009-2019 电致发光成像测试晶体硅光伏组件缺陷的方法T/CPIA 0007-2019 地面用双玻晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型T/ZZB 0869-2018 晶体硅太阳电池组件用双面氟膜绝缘背板T/SAS 0003-2018 正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体T/SAS 0004-2018 空间粒子探测用锗酸铋闪烁晶体T/JSAS 001-2017 晶体硅光伏组件包装运输试验规范T/CPIA 0003-2017 地面用晶体硅光伏组件外形尺寸及安装孔技术要求T/ZZB 0091-2016 地面用晶体硅光伏组件,关于晶体 焓的标准 Q/GDW 11179.5-2014 电能表用元器件技术规范 第5部分:晶体谐振器国际电工委员会,关于晶体 焓的标准 IEC TS 63202-4-2022 光伏电池.第4部分:晶体硅光伏电池的光和高温诱导退化的测量IEC TS 63202-4:2022 光伏电池.第4部分:晶体硅光伏电池的光和高温诱导退化的测量IEC 63284-2022 半导体器件.氮化镓晶体管用电感负载切换的可靠性试验方法IEC 63284:2022 半导体器件.氮化镓晶体管用电感负载切换的可靠性试验方法IEC TS 63202-2-2021 光伏电池.第2部分:晶体硅太阳能电池的电致发光成像IEC TS 63202-2:2021 光伏电池.第2部分:晶体硅太阳能电池的电致发光成像IEC 60444-6-2021 石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量IEC 60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量IEC 60444-6:2021 RLV 石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量IEC 60444-6-2021 RLV 石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性(DLD)的测量IEC 61215-1-1-2021 地面光伏(Pv)模块 - 设计鉴定和型式认证 - 第1-1部分:晶体硅光伏(Pv)模块测试的特殊要求IEC 61215-1-1:2021 RLV 地面光伏组件.设计鉴定和型式认证.第1-1部分:晶体硅光伏组件试验的特殊要求IEC 61215-1-1-2021 RLV 地面光伏组件.设计鉴定和型式认证.第1-1部分:晶体硅光伏组件试验的特殊要求IEC TS 62804-1-1:2020 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分:晶体硅.分层IEC TS 62804-1-1-2020 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1-1部分:晶体硅.分层IEC 63202-1:2019 光伏电池第1部分:晶体硅光伏电池光致降解的测量IEC 63202-1-2019 光伏电池第1部分:晶体硅光伏电池光致降解的测量IEC 60122-4:2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元IEC 60122-4-2019 经质量评定的石英晶体单元第4部分:带热敏电阻的晶体单元IEC TS 61994-4-1-2018 RLV 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体IEC TS 61994-4-1-2018 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体IEC TS 61994-4-1:2018 RLV 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体IEC TS 61994-4-1:2018 频率控制、选择和检测用压电、介电和静电器件及相关材料术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 修改件1.经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范IEC 60122-1-2002+AMD1-2017 CSV 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范IEC 60122-1-2002/AMD1-2017 修改件1.经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 CSV 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范IEC 60444-8-2016 石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具IEC 60444-8:2016 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具IEC 60758-2016 合成石英晶体 - 规格和使用指南IEC 60758:2016 合成石英晶体.使用规范和指南IEC 61215-1-1-2016 地面光伏(Pv)模块 - 设计鉴定和型式认证 - 第1-1部分:晶体硅光伏(Pv)模块测试的特殊要求IEC 61215-1-1:2016 地面光伏(Pv)模块 - 设计鉴定和型式认证 - 第1-1部分:晶体硅光伏(Pv)模块测试的特殊要求IEC TS 62804-1:2015 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅IEC TS 62804-1-2015 光伏组件.潜在诱发退化检测的试验方法.第1部分:晶体硅IEC 61435-2013 核仪器 - 用于辐射检测器的高纯度锗晶体 - 基本特性的测量方法IEC 61435:2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法 IEC 60444-6-2013 石英晶体单位参数测量 - 第6部分:驱动电平依赖性测量(Dld)IEC 60444-6:2013 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量IEC 60679-3-2012 评估质量的石英晶体控制振荡器 - 第3部分:标准概述和引线连接IEC 60679-3:2012 石英晶体受控振荡器的评定标准.第3部分:标准外形和引线连接IEC 60679-6-2011 评定质量的石英晶体控制振荡器 - 第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法 - 应用指南IEC 60122-3-2010 评估质量的石英晶体单位 - 第3部分:标准轮廓和引线连接IEC 60444-11-2010 石英晶体元件参数的测量.第11部分:用自动网络分析仪技术和误差校正测定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法IEC 60122-3 Edition 4.0:2010 石英晶体元件质量评定.第3部分:标准外形线和引线接头IEC 60689-2008 10kHz至200kHz音叉石英晶体单元的测量和试验方法及标准值IEC 60758-2008 合成石英晶体 - 规格和使用指南IEC 60758:2008 合成石英晶体.使用规范和指南IEC 60689:2008 用于10kHz~200kHz及标准值的音叉石英晶体元件的测量和试验方法IEC/PAS 60679-6:2008 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器用相位抖动测量法.应用指南IEC TS 61994-4-1-2007 频率控制和选择用压电和介电器件术语第4-1部分:压电材料合成石英晶体IEC TS 61994-4-1:2007 频率控制和选择用压电和介电装置.术语.第4-1部分:压电材料.合成石英晶体IEC 60444-9-2007 石英晶体单位参数的测量 - 第9部分:压电晶体单元的杂散共振测量IEC 60444-9:2007 石英晶体元件参数测量.第9节:压电晶体元件寄生振荡测量IEC 61215-2005 晶体硅地面光伏(pv)模块 - 设计资格和型式认可IEC 61215:2005 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型IEC 60758:2004 人造石英晶体.规范和使用指南IEC 60444-7-2004 石英晶体单位参数的测量 - 第7部分:石英晶体单元的活动和频率下降的测量IEC 60444-7:2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量IEC 60444-8:2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装石英晶体元件的试验夹具IEC 60679-1 AMD 2:2003 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第1部分:总规范.修改件2IEC 60122-1-2002 评估质量的石英晶体单位 - 第1部分:通用规范IEC 60122-1:2002 经过质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范IEC 60679-3:2001 经质量评定的石英晶体控制振荡器 第3部分:标准外形和引线连接IEC 60758 AMD 2:2001 人造石英晶体 规范和使用指南 修改2IEC 60122-3:2001 经质量评定的石英晶体元件 第3部分:标准外形和引线连接IEC TS 61994-4-1:2001 频率控制和选择用压电和介电器件 术语 第4-1部分:压电材料 合成石英晶体IEC 60444-1 AMD 1:1999 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法 修改1IEC 60758 AMD 1:1997 人造石英晶体 规范和使用指南 修改1IEC 61435:1996 核仪器 放射探测器用高纯度锗晶体IEC 60444-5-1995 石英晶体单位参数的测量 - 第5部分:使用自动网络分析仪技术和误差校正确定等效电参数的方法IEC 61829-1995 晶体硅光伏(PV)阵列 - 现场测量I-V特性IEC 60444-5:1995 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法IEC 61829:1995 晶体硅光伏方阵 I-V特性现场测量IEC 60444-6:1995 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件IEC 60122-2-1-1991/AMD1-1993 修改件1.频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件的使用指南.第1节:微处理器时钟电源用石英晶体元件IEC 60122-2-1 AMD 1:1993 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器钟用石英晶体元件 修改1IEC 61215:1993 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型IEC 60758:1993 人造石英晶体 规范和使用指南IEC 61178-2-1993 石英晶体单元 - 电子元件Iec质量评估系统(iecq)中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证IEC 61178-2-1-1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第2部分:部分规范 - 能力认证 - 第1节:空白详细规范IEC 61178-3-1-1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证 - 第1节:空白详细规范IEC 61178-3-1993 石英晶体单元 - IEC电子元件质量评估系统(IECQ)中的规范 - 第3部分:部分规范 - 资质认证IEC 61178-3-1:1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准 第1节:空白详细规范IEC 61178-1:1993 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第1部分:总规范IEC 61178-2:1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准IEC 61178-2-1:1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第2部分:分规范 能力批准 第1节:空白详细规范IEC 61178-3:1993 石英晶体元件 IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)规范 第3部分:分规范 鉴定批准IEC 60891 AMD 1:1992 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法 修改1IEC 61080-1991 石英晶体等效电参数测量指南IEC 61080:1991 石英晶体元件等效电参数测量指南IEC 60122-2-1-1991 用于频率控制和选择的石英晶体单元 - 第2部分:用于频率控制和选择的石英晶体单元使用指南 - 第一部分:用于微处理器时钟供应的石英晶体单元IEC 60122-2-1:1991 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南 第1节:微处理器时钟用石英晶体元件IEC 60679-3:1989 石英晶体受控振荡器.第3部分:标准轮廓和引线连接IEC 60368-2-1-1988 压电滤波器 第2部分:使用压电滤波器的指南 第一部分 - 石英晶体滤波器IEC TR 60444-4-1988 在pi网络中用零相位技术测量石英晶体单元参数 第4部分:负载谐振频率fL、负载谐振电阻RL的测量方法和石英晶体单元(最高30 MHz)其他衍生值的计算方法IEC 60444-4:1988 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl、负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)IEC 60368-2-1:1988 压电滤波器 第2部分:压电滤波器使用指南 第1节:石英晶体滤波器IEC 60891:1987 晶体硅光伏器件实测I-V特性的温度和辐照度校正方法IEC 60444-1-1986 在Pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 - 第1部分:通过零相位技术在Pi网络中测量石英晶体单元的谐振频率和谐振电阻的基本方法IEC/TR 60444-3:1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第3部分:利用有并联电容Co补偿的π型网络相位技术测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法IEC 60444-1:1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法IEC 60679-1 AMD 1:1985 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法IEC 60122-2-1983 石英晶体频率控制和选择 - 第2部分:使用指南的石英晶体频率控制和选择IEC 60122-2:1983 频率控制和选择用石英晶体元件 第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南IEC 60444-2-1980 在pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 第2部分:用于测量石英晶体单元的运动电容的相位偏移方法IEC 60679-1:1980 石英晶体受控振荡器.第1部分:一般信息、试验条件和方法IEC 60444-2:1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法IEC 60689:1980 手表用32kHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值IEC 60314 AMD 1:1979 石英晶体谐振器的温度控制装置.第1次修改IEC 60314:1970 石英晶体谐振器的温度控制装置IEC/TR 60283:1968 滤波器晶体单元的无用谐振频率和等效电阻的测量方法英国标准学会,关于晶体 焓的标准 BS EN 13708-2022 食品.用电子自旋共振光谱法检验经辐照的含晶体糖的食品BS EN IEC 60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量BS EN 60444-8-2017 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置BS EN 60758-2016 人造石英晶体.使用规范和指南BS EN 61215-1-1-2016 地面光伏 (PV) 模组. 设计质量和型式批准. 晶体硅光伏 (PV) 模组的特殊试验要求BS PD ISO/TR 19716:2016 纳米技术. 纤维素纳米晶体的特征描述BS ISO 15382:2015 辐射防护. 眼内晶体, 皮肤和四肢的剂量监测程序BS PD IEC/TS 62804-1:2015 光伏 (PV) 模块. 检测电位诱导衰减的试验方法. 晶体硅BS ISO 27027:2014 航空航天系列.使用电晶体的遥控功率控制器.通用性能要求BS EN 60444-6-2013 石英晶体元件参数的测量.激励电平相关性(DLD)的测量BS IEC 61435:2013 核仪器.放射探测器用高纯度锗晶体.基本特性的测量方法 BS EN ISO 12782-2:2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取BS EN 60679-6-2011 经质量评估的石英晶体受控振荡器.石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南BS EN 60122-3-2010 经质量评定的石英晶体件.标准外形和引线连接BS EN 60444-11-2010 石英晶体元件参数的测量.使用自动网络分析技术和纠错法测定负载共振频率L和有效负载电容CLeff的标准方法BS EN 50513-2009 太阳能晶片.太阳能电池制造晶体硅晶片的数据表和产品信息BS EN 60758-2009 人造石英晶体.使用规范和指南BS ISO 27027:2008 航空航天系列.使用电晶体的遥控功率控制器.通用性能要求BS DD IEC/TS 61994-4-1:2008 频率控制和选择用压电器件与介质器件.术语表.压电材料.人造石英晶体BS EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.压电晶体元件寄生振荡测量BS EN 50461-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据BS EN ISO 11979-10:2006 眼科植入物.眼内透镜.晶体眼人工晶体植入术 BS ISO 20203:2006 铝生产用碳素材料.煅烧焦炭.用X射线衍射法测定煅烧石油焦炭的晶体粒度BS EN 61215-2005 晶体硅地表光伏电池组件.设计合格鉴定和型式批准BS EN 60758-2005 人造石英晶体.规范和使用指南BS EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.石英晶体元件的活性和频率下降的测量BS EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.表面安装石英晶体元件用试验装置BS EN 60122-1-2002 经质量评定的石英晶体元件.总规范BS EN 13708-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验经辐照的含晶体糖的食品BS EN 60679-5-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.分规范.合格鉴定BS EN 61747-5-1998 液态晶体和固态显示装置.环境、耐久性和机械试验方法BS EN 60679-5-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.合格鉴定BS EN 60679-4-1-1998 经质量评估的石英晶体受控振荡器.空白详细规范.能力认可BS EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体受控振荡器.分规范.能力认可BS EN 168201-1996 电子元器件的质量评估协调体系.空白详细规范.石英晶体元件(资格认可)BS EN 60444-5-1995 石英晶体元件参数测量.第5部分:用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数BS EN 169101-1995 电子元件质量评定协调体糸规范.空白详细规范.石英晶体控制振荡器BS EN 168100-1995 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体器件的分规范(性能验收)BS EN 60444-1-1997 石英晶体单元参数的测量.第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体单元谐振频率和谐振电阻的基本方法BS EN 60444-3-1993 石英晶体器件参数的测定.第3部分:用与并联电容量C0补偿相连的π网络相位技术测量200 MHz以下的石英器件的两极参数的基本方法BS EN 60444-2-1993 石英晶体元件参数的测定.第2部分:用相位偏离法测量石英晶体单元的动态电容BS EN 60444-4-1993 石英晶体元件参数测量.第4部分:30 MHz以下石英晶体元件负荷谐振频率fL.负荷谐振电阻R1测量方法,以及石英晶体元件其他导出值计算方法BS EN 169100-1993 电子元器件质量评定协调体系.分规范:石英晶体受控振荡器(性能鉴定)BS EN 168200-1996 电子元器件质量评定协调系统.分规范:石英晶体部件(合格鉴定批准)BS CECC 68100-1991 电子元器件质量评定协调体系.石英晶体装置(性能合格鉴定)分规范.BS EN 168101-1990 电子元器件质量保证协调体系.空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)BS 9617-1982 经质量评估的石英晶体振子详细规范的制定规则.全面评估级BS 9612 N016-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8~20 MHz和3.0~30 MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级BS 9612 N017-1979 振荡器用电阻焊接密封石英晶体元件用详细规范.DN、DZ、DQ和DP外壳、0.8~20 MHz和3.0~30 MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评估等级BS 9612 N019-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N020-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N021-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、50至125MHz频率范围.窄温范围(温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N010-1979 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DP外壳、6.0至25MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N018-1979 振荡器用电阻焊密封石英晶体振子详细规范.DN、D2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N004-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47 U/2、DQ和DP外壳、0.8至20MHz和3.0到30MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N006-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、47U/2、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.宽温范围(非温控)操作的第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N008-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、50至125MHz频率规范.宽温范围(非温控)操作用第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N005-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、0.8~20MHz和3.0~30MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作的基波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N009-1977 经质量评定的振荡器用冷焊封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳,50至125MHz频率规范.窄温范围(非温控)操作的第五谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级BS 9612 N007-1977 振荡器用冷焊密封石英晶体振子详细规范.DN、DQ和DP外壳、17至75MHz频率范围.窄温范围(非温控)操作用第三谐波厚度剪切模式、晶片AT切割.全面评定级法国标准化协会,关于晶体 焓的标准 NF C93-621-6-2021 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量NF C57-105-1-1-2021 地面光伏(PV)模组. 设计质量和型式批准. 第1-1部分: 检测晶体硅光伏(PV)模组的特殊要求NF C93-640-201-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (鉴定批准)NF C93-640-101-2014 空白详细规格: 石英晶体元件 (能力批准)NF C93-610-2014 在10 kHz至200 kHz和标准值范围内音叉石英晶体元件的测量和试验方法NF C93-621-9-2014 石英晶体元件参数的测量. 第9部分: 压电晶体元件寄生谐振的测量NF C93-621-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分: 激励电平相关性 (DLD) 的测量NF C93-640-100-2013 分规范: 石英晶体元件(能力批准)NF C93-640-200-2013 分规范: 石英晶体谐振器 (资格鉴定)NF C93-620-3-2013 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器NF C93-632-2013 人造石英晶体. 规范和使用指南NF S94-750-1-2012 眼科植入物.人工晶体.第1部分:词汇NF S94-750-4/A1-2012 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息.修改件1NF X31-090-2-2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取NF C93-620-6-2011 质量评估石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和锯齿波振荡器相位抖动的测量方法.NF S94-750-8/A1-2011 眼睛植入体,人工晶体.第8部分:基本要求.修改件1.NF C93-618-3-2011 经质量评估的石英晶体器件.第3部分:标准外形和引线连接件NF C57-203-2009 太阳能硅片.太阳能电池生产用晶体硅的数据单和产品信息.晶体硅硅片NF C53-700-1/A2-2009 高压直流(HVDC)电力传输用晶体闸流管阀门.第1部分:电气测试NF C57-202-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据NF S94-750-10-2006 眼科植入物.眼底镜.第10部分:晶体眼人工晶体植入术(PHAKIC)眼底镜NF C57-105-2005 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和型式批准NF C93-632-2005 人造石英晶体.规范和使用指南NF C93-621-8-2005 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用试验设备NF C93-621-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的放射性和频率下降测量NF C93-618-1-2003 经过质量评定的石英晶体装置.第1部分:总规范NF V03-005-2002 食品.用电子自旋共振光谱法检验含晶体糖的辐照食品NF C93-620-3-2002 经质量评估的石英晶体控制振荡器.第3部分:标准外形和引线连接器NF C93-625-2001 石英晶体元件的参数测量.第5部分:使用自动网络分析仪和误差修正技术测定等效电气参数的方法NF C93-623-2001 用π型网络的零相位技术测量石英晶体器件参数.第3部分:用并联电容 CO 补偿的π网络零相位技术测量最高可达 200 MHz 的石英晶体器件谐振器两端参数的基本方法NF C93-624-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体元件参数.第4部分:石英晶体单元负荷谐振频率 fL 、负荷谐振电阻 RL 的测量方法及其他石英晶体元件导出值的计算方法(频率最高可达 30 MHz)NF C93-622-2001 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第2部分:石英晶体器件动态电容测量的相位补偿法NF C93-626-2001 石英晶体元件的参数测量.第6部分:驱动水平依赖测量NF T51-621-2000 塑料制品.用毛细管和偏光显微镜测定半晶体聚合物的熔化特性(熔化温度或熔化范围)NF C57-108-2000 晶体硅光电(PV)阵列.I-V 特性现场测量NF C93-621-2000 用π型网络的零相位法测量石英晶体器件参数.第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体器件谐振频率和谐振电阻的基本方法NF C93-620-5-1-2000 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定批准NF C93-620-5-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定批准NF C93-620-4-1999 经质量评定的石英晶体受控振荡器.第4部分:分规范.能力批准NF C93-630-1999 经质量评估的石英晶体控制振子.第4-1部分:容量认可的空白详细规范NF C57-105-1996 晶体硅地面光电(PV)模数.设计合格鉴定和型号认可NF C57-104-1995 晶体硅光电元器件 I-V 特性测量用温度和辐照度的修正程序NF C93-613-1979 电气设备元件压电器件压电滤波器晶体滤波器的使用指南NF C93-601/AM1-1976 电子元件.压电器件.晶体座NF C93-611-1975 电子设备元件.压电器件.振荡器用石英晶体器件美国材料与试验协会,关于晶体 焓的标准 ASTM C788-03(2021) 核级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范ASTM D7739-11(2020) 通过石英晶体微量天平测定热氧化稳定性的标准实践ASTM B808-10(2020) 石英晶体微量平衡监测大气腐蚀室的标准试验方法ASTM E82/E82M-14(2019) 测定金属晶体取向的标准试验方法ASTM E2625-19 控制建筑物及拆卸活动的可吸入晶体硅的职业照射的标准程序ASTM E2625-09(2017) 控制建筑物及拆卸活动的可吸入晶体硅的职业照射的标准程序ASTM E82/E82M-14 测定金属晶体取向的标准试验方法ASTM E1968-11 在对可卡因进行法医分析时所进行的微晶体试验的标准指南ASTM D7739-11(2016) 采用石英晶体微天平测量热氧化稳定性的标准实施规程ASTM D7739-11 通过石英晶体微量天平测量热氧化稳定性的标准操作规程ASTM B808-10(2015) 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法ASTM E82-09 测定金属晶体取向的标准试验方法ASTM B808-05 用石英晶体微量天平监测大气腐蚀室的标准试验方法ASTM C788-03(2009) 核纯级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范ASTM C788-03 核纯级硝酸铀酰溶液或晶体的标准规范ASTM E82-91(1996) 测定金属晶体取向的标准试验方法ASTM E1969-01 甲基苯异丙胺法医检定法中微晶体试验的标准指南ASTM E975-00 X射线测定近似随机晶体取向钢中残留奥氏体的标准实践ASTM E1968-98 法医检定法中微晶体试验的标准指南ASTM E1969-98 甲基苯异丙胺法医检定法中微晶体试验的标准指南ASTM F950-98 用角抛光和疵点侵蚀加工法测量机械加工硅片表面晶体损坏深度的试验方法ASTM E1968-98(2003) 法医检定法中微晶体试验的标准指南ASTM B808-97 用石英晶体微量天平监测室内大气腐蚀的标准试验方法ASTM F1723-96 用浮区晶体增长和光谱法评估多晶硅竿材的标准实施规范ASTM E82-91(2007) 测定金属晶体取向的标准试验方法国际标准化组织,关于晶体 焓的标准 ISO/TS 23151:2021 纳米技术.纤维素纳米晶体的粒度分布ISO 21820:2021 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷).分析掺硼和掺氮SiC晶体的多类型的紫外光致发光图像试验方法ISO 19214:2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法ISO/TR 19716:2016 纳米技术. 纤维素纳米晶体的特性描述ISO 15382:2015 辐射防护. 眼内晶体, 皮肤和四肢的剂量监测程序ISO 11979-4:2008/Amd 1:2012 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息.修改件1ISO 11979-1:2012 眼科植入物.人工晶体.第1部分:词汇表ISO 12782-2:2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取ISO 20203:2005 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度工业和信息化部,关于晶体 焓的标准 XB/T 516-2021 硅酸钇镥晶体回收料JC/T 439-2021 红外探测器窗口用硫化锌晶体JC/T 2613-2021 钛宝石激光晶体JC/T 2419-2017 光参量振荡用磷酸氧钛钾晶体JC/T 2418-2017 掺钕硼酸氧钙钆钇激光自倍频晶体通用技术条件及测试方法SJ/T 11572-2016 运输环境下晶体硅光伏组件机械振动测试方法SJ/T 11199-2016 压电石英晶体片日本工业标准调查会,关于晶体 焓的标准 JIS C6701-2021 石英晶体单元的通用规范和试验方法JIS C6703-2021 晶体过滤器的通用规范和试验方法JIS C6704-2017 合成石英晶体JIS C8918-2013 晶体光伏(PV)组件JIS C6704-2009 合成石英晶体JIS C8990-2009 晶体硅地面光电(PV)模块.设计鉴定和型号核准JIS C6703-2008 晶体滤波器JIS C6701-2007 石英晶体元件的一般规范JIS C6710-2007 晶体控制振荡器的一般规范JIS C8915 AMD 1-2005 晶体太阳能电池和模件的波谱反应测量方法(修改件1)JIS C8914 AMD 1-2005 晶体太阳能PV模件的输出功率测量方法(修改件1)JIS C8913 AMD 1-2005 晶体太阳能电池的输出功率测量方法(修改件1)JIS C8920-2005 采用空载电压的晶体太阳能电池等效电池温度的测量方法JIS C8917 AMD 1-2005 晶体太阳能PV模件的环境试验方法和耐久性试验方法(修改件1)JIS C8918 AMD 1-2005 晶体太阳能PV模件(修改件1)JIS C8919 AMD 1-2005 晶体太阳能电池及模件输出功率的室外测量方法(修改件1)JIS C8911 AMD 1-2005 次级基准晶体太阳能电池(修改件1)JIS C8912 AMD 1-2005 晶体太阳能电池和模件用太阳能模拟装置(修改件1)JIS C8916 AMD 1-2005 晶体太阳能电池和模件的输出电压和电流的温度系数测量方法(修改件1)JIS H7805-2005 用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法JIS H7803-2005 金属晶体中粒径和晶粒大小测定的一般规则JIS H7804-2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法JIS C6704-2005 人造石英晶体JIS C8990-2004 晶体硅地面光电模型.设计鉴定和类型验收JIS C6703-2002 晶体滤波器总规范JIS H0609-1999 用优选浸蚀技术检测硅中晶体缺陷的试验方法JIS C6710-1999 晶体控制振荡器的一般规范JIS C6701-1999 石英晶体元件的一般规范JIS B4138-1998 金刚石/立方晶体氮化硼产品.金刚石或立方晶体氮化硼分割锯JIS B4131-1998 金刚石/立方晶体氮化硼产品.金刚石或立方晶体氮化硼砂轮JIS B4130-1998 金刚石/立方晶体氮化硼产品.金刚石或立方晶体氮化硼的粒度JIS B4141-1998 金刚石/立方晶体氮化硼产品.金刚石或立方晶粒氮化硼砂轮和锯.形状的尺寸特性和代码JIS C8918-1998 晶体太阳能PV模数JIS B4140-1997 金刚石或立方晶体氮化硼电镀工具JIS C6704-1997 人造石英晶体JIS H0615-1996 用光致发光光谱法测定硅晶体中杂质浓度的试验方法JIS C6710-1995 石英晶体控制振荡器通则JIS H0602-1995 用四点探针法对硅晶体和硅片电阻率的测试方法JIS C6703-1995 晶体滤波器通则JIS C8919-1995 晶体太阳能电池及组件输出功率的室外测量方法JIS H0609-1994 在优选的腐蚀工艺下硅晶体损害的试验方法JIS B4131-1993 金刚砂及立方晶体氮化硼砂轮JIS C7032-1993 晶体管用通用规则JIS B4130-1982 金刚砂及立方晶体氮化硼砂的粒度JIS H0610-1966 锗晶体浸蚀点密度的测定方法JIS C7234-1978 有可靠性保证的双向三极晶体闸流管(大、中电流)JIS C7233-1978 有可靠性保证的双向三极晶体闸流管(小电流)JIS C7232-1978 有可靠性保证的反向阻断型三极晶体闸流管(中、大电流)JIS C7231-1978 有可靠性保证的反向阻断器三极晶体闸流管(小电流)JIS C7051-1974 反向阻断型三极晶体闸流管的试验方法JIS C6705-1984 晶体振子(用于200kHz-1000kHz)JIS C6702-1992 石英晶体振子用恒温箱JIS C6701 ERRATUM 1-2000 石英晶体装置的总规范(勘误 1)国家能源局,关于晶体 焓的标准 NB/T 10453-2026 晶体硅太阳电池组件用封框胶带NB/T 10200-2019 晶体硅太阳电池组件用聚烯烃弹性体(POE)封装绝缘胶膜NB/T 42104.3-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第3部分:湿热气候条件NB/T 42104.4-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第4部分:高原气候条件NB/T 42104.2-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第2部分:干热气候条件NB/T 42104.1-2016 地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第1部分:一般气候条件行业标准-能源,关于晶体 焓的标准 NB/T 10453-2020 晶体硅太阳电池组件用封框胶带行业标准-教育,关于晶体 焓的标准 JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则青海省标准,关于晶体 焓的标准 DB63/T 1781-2020 电站现场晶体硅太阳能电池组件隐性缺陷检测技术规范浙江省标准,关于晶体 焓的标准 DB33/ 972-2019 晶体硅光伏产品单位可比电耗限额及计算方法DB33/ 972-2015 太阳能晶体硅单位产品可比电耗限额及计算方法上海市标准,关于晶体 焓的标准 DB31/T 1157-2019 地面用晶体硅光伏组件行业安全生产标准化基本要求江苏省标准,关于晶体 焓的标准 DB32/T 3594-2019 晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法德国标准化学会,关于晶体 焓的标准 DIN EN 60122-1-2018 经质量评定的石英晶体元件. 第1部分: 总规范 (IEC 60122-1-2002+A1-2017); 德文版本 EN 60122-1-2002+A1-2018DIN EN ISO 15382:2017 辐射防护.眼内晶体,皮肤和四肢的剂量监测程序(ISO 15382-2015);德文版本EN ISO 15382-2017DIN IEC/TS 62804-1:2017 光伏(PV)模块.检测电位诱导衰减的试验方法.第1部分:晶体硅(IEC/TS 62804-1-2015)DIN EN 60758-2017 人造石英晶体.规范和使用指南(IEC 60758-2016);德文版本EN 60758-2016DIN EN ISO 11979-8:2015 眼科植入物.人工晶体.第8部分:基本要求(ISO 11979-8-2006+Amd.1-2011);德文版本EN ISO 11979-8-2015DIN EN ISO 11979-10:2014 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术(ISO 11979-10-2006+Amd 1-2014);德文版本EN ISO 11979-10-2006+A1-2014DIN EN 60444-6-2014 石英晶体元件参数的测量. 第6部分:激励电平相关性 (DLD) 的测量 (IEC 60444-6-2013); 德文版本EN 60444-6-2013DIN EN 60679-3-2014 经质量评估的石英晶体受控振荡器.第3部分:标准外形和引线连接件(IEC 60679-3-2012).德文版本EN 60679-3-2013DIN EN ISO 11979-4:2013 眼科植入物.人工晶体.第4部分:标签和信息(ISO 11979-4-2008 + Amd.1-2012).德文版本EN ISO 11979-4-2008 + A1-2012DIN EN ISO 12782-2:2012 土质. 土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数. 第2部分:带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取 (ISO 12782-2-2012); 德文版本EN ISO 12782-2-2012DIN EN 60679-6-2011 质量评定的石英晶体控制振荡器.第6部分:石英晶体振荡器和SAW振荡器的相位抖动测量方法.应用指南(IEC 60679-6-2011).德文版 EN 60679-6-2011DIN EN ISO 11979-8:2011 眼科植入物.人工晶体.第8部分:基本要求(ISO 11979-8-2006 + Amd.1-2011);德文版本EN ISO 11979-8-2009 + A1-2011DIN EN 60122-3-2011 经质量评估的石英晶体元件.第3部分:标准外形和引线连结件(IEC 60122-3-2010).德文版本EN 60122-3-2010DIN EN 60689-2009 频率为10 kHz~200 kHz 音叉石英晶体元件的测量和试验方法及标准值(IEC 60689:2008),德文版本 EN 60689:2009DIN EN 60758-2009 人造石英晶体 规范和使用指南DIN EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数的测量.第9部分:压电晶体元件谐振的测量DIN EN ISO 11979-10:2006 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术(ISO 11979-10:2006)DIN EN 61215-2006 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型DIN EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量DIN EN 60444-8-2004 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件用测试工具DIN EN 60122-1-2003 经质量评定的石英晶体元件.第1部分:总规范DIN 1304-9-2003 物理量的字母符号.第9部分:压电晶体等效电路符号DIN EN 60444-1-2000 用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的参数.第1部分:用π型网络的零相位技术测量石英晶体单元的谐振频率和谐振阻抗DIN EN 60679-5-1999 经过质量评定的石英晶体控制振荡器.第5部分:分规范.合格鉴定DIN EN 60679-5-1-1999 经过质量评定的石英晶体控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.合格鉴定DIN EN 60679-4-1-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4-1部分:空白详细规范.能力认可DIN EN 60679-4-1998 经质量评定的石英晶体控制振荡器.第4部分:分规范.能力认可DIN EN 60444-2-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第2部分:相位偏离法测量石英晶体元件动态电容DIN EN 60444-5-1997 石英晶体元件参数测量.第5部分:自动网络分析仪和误差修正技术评定电气参数的测量方法DIN EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英晶体元件参数.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法以及其他导出参数值的计算DIN IEC 60679-2:1997 石英晶体受控振荡器.第2部分:石英晶体受控振荡器使用导则DIN 50446-1995 半导体工艺材料的检验.硅晶体外延层缺陷种类和缺陷密度的测定DIN IEC 61178-3:1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第3部分:分规范:合格鉴定批准DIN IEC 61178-2-1:1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力认可.第1节:空白详细规范DIN IEC 61178-2:1995 IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).石英晶体组件.第2部分:分规范:能力批准DIN IEC 61178-3-1:1995 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第3部分:分规范:合格验收.第1节:空白详细规范DIN 52341-1993 玻璃的试验.铅晶体玻璃和晶体玻璃的化学分析DIN EN 168200-1993 分规范.石英晶体装置(合格认定)DIN IEC 60122-2:1993 稳率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则DIN IEC 60368-2-1:1993 压电滤波器.第2部分:压电滤波器使用指南.第1节:石英晶体滤波器DIN EN 168100-1993 分规范:石英晶体装置(性能批准)DIN IEC 60122-2-1:1992 频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用导则.第1节:微处理机脉冲源用石英晶体元件DIN 50443-1-1988 半导体工艺使用材料的检验.第1部分:用X射线外形测量法检测半导体单晶硅中晶体缺陷和不均匀性DIN 50434-1986 半导体工艺材料的检验.对(111)和(100)表面采用蚀刻技术的单晶硅的晶体结构缺陷的测定DIN 45105-4-1981 压电石英器件.测量方法.滤波器晶体附加谐振的频率和谐振阻抗测量内蒙古自治区标准,关于晶体 焓的标准 DB15/T 1346-2018 地面用晶体硅太阳电池组件检验规范河北省标准,关于晶体 焓的标准 DB13/T 2349-2016 晶体硅光伏组件质量保障要求DB13/T 2255-2015 晶体硅太阳能全玻组件DB13/T 1289-2010 地面用晶体硅太阳电池组件DB13/T 1288-2010 晶体硅太阳电池行业标准-电子,关于晶体 焓的标准 SJ/T 11550-2015 晶体硅光伏组件用浸锡焊带SJ/T 11549-2015 晶体硅光伏组件用免清洗助焊剂SJ/T 10015-2013 10kHz~200kHz音叉石英晶体元件的测试方法和标准值SJ 51508/8-1999 LP12型石英晶体单片滤波器详细规范SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算SJ/T 11211-1999 石英晶体元件参数的测量.第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法SJ/T 11199-1999 压电石英晶体片SJ 20718-1998 碲镉汞晶体中痕量元素的测定方法SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法SJ 51508/6-1996 LST21.4M型石英晶体滤波器详细规范SJ 51508/7-1996 LST25.0425M型石英晶体滤波器详细规范SJ/T 10707-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第2部分:分规范-能力批准.第1篇:空白详细规范SJ/T 10708-1996 石英晶体元件-电子元器件质量评定体系规范.第3部分:分规范-鉴定批准.第1篇:空白详细规范SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范SJ 51508.4-1995 LSB1.4M型边带石英晶体滤波器详细规范SJ 51508.5-1995 LSP21.4M型石英晶体单片滤波器详细规范SJ 52138.1-1995 JA538型石英晶体元件详细规范SJ/T 10639-1995 石英晶体元件术语SJ 51508/2-1994 LST42.02M型石英晶体滤波器详细规范SJ 51508/3-1994 LSP10.7M(1~3)型石英晶体单片滤波器详细规范SJ 51508/1-1994 LST60.02M型石英晶体滤波器详细规范SJ/T 9550.30-1993 地面用晶体硅太阳电池组件质量分等标准SJ/T 9550.29-1993 地面用晶体硅太阳电池单体质量分等标准SJ 20110-1992 LST60MA型石英晶体滤波器详细规范SJ/T 10015-1991 JU38和JU26型钟表用32kHz音叉石英晶体元件SJ 3254-1989 中小功率晶体三极管计量专用样管筛选方法SJ 2816.3-1987 J3型(锡焊)晶体盒详细规范SJ 2816.2-1987 J1A型(电阻焊)晶体盒详细规范SJ 2816.1-1987 J1型(锡焊)晶体盒详细规范SJ 2816.4-1987 J3A型(电阻焊)晶体盒详细规范SJ 2816.5-1987 J3B型(冷压焊)晶体盒详细规范SJ 2592-1985 LSP10.7MA(~E)型石英晶体单片滤波器SJ/Z 9156-1987 滤波晶体元件寄生谐振的频率和等效电阻的测量方法SJ 20230-1993 BJ2951A(JS—5A)型晶体三极管HFE测试仪检定规程SJ/Z 9155.1-1987 石英晶体振荡元件 第一部分:综合性资料、试验条件和试验方法SJ/Z 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准SJ/Z 9152.2-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第二部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南SJ/Z 9154.3-1987 利用并联电容CO补偿的π型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法SJ/Z 9158-1987 石英晶体元件用温度控制装置SJ/T 10958-1996 电子元器件详细规范 3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管(可供认证用)SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量SJ/Z 9162-1987 手表用32KHz石英晶体元件的测量方法、试验方法和标准值SJ/T 9570.2-1995 石英晶体单片滤波器质量分等标准SJ/T 9570.1-1995 石英晶体元件质量分等标准SJ/Z 9152.1-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第一部分:标准值和试验条件SJ/Z 9152.3-1987 频率控制和选择用石英晶体元件 第三部分:标准外形及插脚连接SJ/Z 9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分:测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法SJ/Z 9154.2-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法SJ/T 10959-1996 电子元器件详细规范 3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管(可供认证用)美国国家标准学会,关于晶体 焓的标准 ANSI Z80.29-2015 眼科.可调节人工晶体ANSI/UL 61215-2012 地面用晶体硅光伏(PV)模块标准.设计资格和型号批准 ANSI/UL 1008S-2012 使用电晶体的转接开关安全性标准(提案日期10-14-11)ANSI/ASTM D7739:2011 通过石英晶体微量天平测量热氧化稳定性的操作规程ANSI Z80.13-2007 晶体眼人工晶体植入术ANSI B74.23-2002 金刚石立方体氮化硼磨料的相对晶体强度的测量ANSI/EIA 699-1997 石英晶体谐振子坯视觉检验的试验方法ANSI/IEEE 1160:1993 辐射探测器用高纯度锗晶体的测试程序ANSI/EIA 417-A-1991 晶体外形ANSI/EIA 512-1-1990 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电气参数测量的标准方法(ANSI/EIA 512-1985的补充件)ANSI/EIA 512-1985 1kHz至1GHz石英晶体振子等效电参数测量的标准方法ANSI IT4.177-1983 摄影(化学制品).硫氰酸钠晶体和溶液(50%).ANSI PH4.177-1983(R1987)的重申和重新设计ANSI PH4.177-1983 摄影用化学药品.硫氰酸钠晶体和硫氰酸钠溶液ANSI/NAPM IT4.177-1983 摄影(药液).硫氰酸钠晶体和硫氰酸钠溶液(50%)ANSI/EIA 192-A-1967 石英晶体元件的支柱引线和插脚连接新疆维吾尔自治区标准,关于晶体 焓的标准 DB65/T 3708-2015 地面用晶体硅光伏组件技术条件DB65/T 3683-2014 地面用晶体硅光伏组件用原材料技术条件行业标准-建材,关于晶体 焓的标准 JC/T 817-2014 宝石级合成立方氧化锆晶体JC/T 2148-2012 硅酸镓镧压电晶体JC/T 2146-2012 准相位匹配用高掺镁铌酸锂晶体JC/T 2023-2010 钨酸铅闪烁晶体JC/T 2017-2010 氟化铅晶体JC/T 2018-2010 高能粒子探测用掺铊碘化铯晶体JC/T 471-1992 光敏探测器用人造石英晶体片JC/T 439-1991 红外探测器窗口用硫化锌晶体欧洲标准化委员会,关于晶体 焓的标准 EN ISO 11979-6:2014 眼科植入物.人工晶体.第6部分:贮藏期限和运输稳定性测试(ISO 11979-6:2014)EN ISO 11979-1:2012 眼科植入人工晶体.第1部分:词汇EN ISO 12782-2:2012 土质.土壤和材料成分的浸出和物种形成的地球化学模型参数.带连二亚硫酸盐的氧化铁和氢氧化铁晶体的萃取EN ISO 11979-3:2012 眼科植入物.人工晶体.第3部分:机械性能和测试方法EN ISO 10601:2008 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法EN ISO 11979-10:2006 眼科植入物.眼内透镜.第10部分:有晶体眼人工晶体植入术 ISO 11979-10-2006行业标准-机械,关于晶体 焓的标准 JB/T 11375-2013 超微细晶体放映屏幕JB/T 5482-2011 X射线晶体定向仪JB/T 10789-2007 高压晶体炉.TDR-GY系列液封直拉法高压晶体炉JB/T 5482-2004 X射线晶体定向仪 技术条件韩国科技标准局,关于晶体 焓的标准 KS M ISO 10601:2012 涂料用云母铁矿晶体颜料.规范和试验方法KS D 0258-2012 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法KS C IEC 60122-2-1:2011 频率控制和选择用石英谐振器.第2部分:频率控制和选择元件用石英晶体元件的使用指南KS M ISO 20203:2011 铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.X.射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度KS D 0078-2008 硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法KS C IEC 60747-6-2:2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第2节:双向三极晶体闸流(三极双向可控硅开关元件)、电流最多为100A空白详细规范KS C IEC 60747-6-3:2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶体闸流管.第3节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻挡三极闸流晶体管的空白详细规范KS C IEC 61215:2006 地面用晶体硅光伏组件.设计鉴定和定型KS C 8537-2005 2次标准晶体基太阳电池KS C 8528-2005 晶体基太阳电池输出功率的测量方法KS C 8525-2005 晶体基太阳电池光谱响应测试方法KS C 8526-2005 晶体基太阳电池模块输出功率的测量方法KS C 8527-2005 晶体基太阳电池组件模块测定用太阳模拟器KS C IEC 61829:2005 晶体硅光伏方阵.I.V特性现场测量KS C IEC 61178-2-1:2002 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第2部分:分规范:性能验收.第1节:空白详细规范KS C IEC 60679-5-1:2002 已评定质量的石英晶体受控振荡器.第5-1部分:空白详细规范.质量验证KS C IEC 60679-4-1:2002 已评定质量的石英晶体受控振荡器.第4-1部分:空白详细规范.能力鉴定KS C IEC 61178-3-1:2002 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第3部分:分规范:合格验收.第1节:空白详细规范KS C 8529-1995 晶体基太阳电池模块输出电压、输出电流的温度系数测定方法KS C 6506-1983 人工石英晶体美国保险商实验所,关于晶体 焓的标准 UL 61215-2012 晶体硅地面光伏(PV)组件.设计资格和型号批准国家军用标准-总装备部,关于晶体 焓的标准 GJB 2138/4-2011 JA500型石英晶体元件详细规范陕西省标准,关于晶体 焓的标准 DB61/T 513-2011 地面用晶体硅太阳电池检验规则DB61/T 515-2011 地面用晶体硅光伏组件检验规则DB61/T 514-2011 地面用晶体硅光伏组件用原材料检验规则福建省地方标准,关于晶体 焓的标准 DB35/T 1119-2011 中小功率绿色和蓝色固体激光器晶体组件(美国)军事条例和规范,关于晶体 焓的标准 ARMY QPL-55310-74-2010 晶体控制振荡器总规范ARMY QPL-55310-71-2010 晶体控制振荡器总规范ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 低压1.8V CMOS气密封装式1~100 MHz的1型(晶振(XO))晶体控制式振荡器ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 CR58/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 CR59/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 CR56/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 CR55/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 CR76/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 CR75/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 CR74/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 CR72/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 CR69/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 CR67/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 CR65/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 CR64/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 CR63/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 CR62/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 CR61/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 CR60/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 CR26/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 CR25/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/4 G-2010 CR19/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 CR18/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 CR54/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 CR27/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/10 H-2010 CR28/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 CR33/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 CR35/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 CR36/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 CR37/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 CR42/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 CR45/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 CR46/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 CR47/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 CR52/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 CR81/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 CR89/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 CR83/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 CR82/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 CR85/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 CR73/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 CR6/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 CR5/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 CR97/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 CR91/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 CR78/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 CR78/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 CR165/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 CR130/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 CR101/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 CR119/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 CR36/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 CR37/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 CR42/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 CR46/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 CR47/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 CR52/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 CR54/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 CR55/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 CR58/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 CR59/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 CR60/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 CR63/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 CR67/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 CR69/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 CR79/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 CR101/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 CR130/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 CR165/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 CR18/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 CR19/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 CR25/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 CR26/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 CR27/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 CR28/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 CR33/U型石英晶体谐振器ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 CR35/U型石英晶体谐振器ARMY QPL-55310-70-2008 晶体控制振荡器总规范ARMY MIL-PRF-55310 E-2006 普通规格晶体控制振动器ARMY MIL-PRF-55310 E SUPP 1-2006 普通规格晶体控制振动器ARMY QPL-55310-69-2006 一般规格晶体控制振荡器.ARMY MIL-STD-1170 VALID NOTICE 1-2003 评测7.62mm弹壳中的晶体结构视觉标准和比较方法ARMY MIL-STD-1170-1964 评测7.62mm弹壳中的晶体结构视觉标准和比较方法欧洲电工标准化委员会,关于晶体 焓的标准 EN 60122-3-2010 经质量评估的石英晶体震荡器.第3部分:标准外形和引线连接件EN 60758-2009 合成石英晶体.使用规范和指南EN 60444-9-2007 石英晶体元件参数测量.第9部分:压电晶体元件寄生振荡测量EN 50461-2006 太阳能电池.晶体硅太阳能电池的数据表信息和产品数据EN 61215-2005 地面用晶体硅光伏(PV)模块设计鉴定和定型 IEC 61215-2005EN 60444-7-2004 石英晶体元件参数的测量.第7部分:石英晶体元件活性和频率下降的测量 IEC 60444-7-2004EN 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面安装的石英晶体元件的测试设备 IEC 60444-8-2003EN 61829-1998 晶体硅光伏(PV)方阵现场测量IV特性 IEC 61829:1995EN 60444-4-1997 用π型网络的零相位技术测量石英谐振器参数.第4部分:石英晶体元件负荷谐振频率fl,负荷谐振电阻Rl的测量方法,以及石英晶体元件其他导出值的计算方法(频率小于30MHz)EN 169101-1993 空白详细规范:石英晶体控制振荡器(性能验收)行业标准-医药,关于晶体 焓的标准 YY 0290.10-2009 眼科光学.人工晶状体.第10部分:有晶体眼人工晶状体YY/T 0295.11-1997 晶体囊镊YY 0290.8-1997 人工晶体.第8部分:基本要求YY 0290.5-1997 人工晶体.第5部分:生物相容性YY 0290.4-1997 人工晶体.第4部分:标签和资料YY 0290.3-1997 人工晶体.第3部分:机械性能及其测试方法YY 0290.6-1997 人工晶体.第6部分:有效期和运输试验YY 0290.1-1997 人工晶体.第1部分:术语YY 0290.2-1997 人工晶体.第2部分:光学性能及其测试方法加拿大标准协会,关于晶体 焓的标准 CSA C61215-08-CAN/CSA-2008 地面用晶体硅光伏(PV)模块.设计鉴定和定型.第2版CSA C61215:01-CAN/CSA-2001 晶体硅地面光电(PV)模数-设计鉴定和形式批准.第1版美国国防后勤局,关于晶体 焓的标准 DLA MIL-PRF-19500/534 F-2008 型号为2N5002和2N5004,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANSM,JANSD,JANSP,JANSL,JANSR,JANSF,JANSG,JANSH,JANHCB,JANKCB,JANKCBM,JANKCBD,JANKCBP,JANKCBL,JANKCBR,JANKCBF,JANKCBG以及JANKCBH的硅晶体三极管半导体设备DLA MIL-PRF-19500/597 D VALID NOTICE 1-2008 型号为2N7334,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANHC,JANKCA2N7334以及JANHCA2N7334的硅晶体场效应半导体设备,带N个通道具四个三极管DLA MIL-PRF-19500/198 E-2008 2N1870A2,N1871A,2N1872A和2N1874A,JAN型晶体闸流管半导体装置DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 微型表面安装石英晶体单位DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 微型印刷电路安装石英晶体单位DLA QPL-3098-91-2006 石英晶体装置.一般规格DLA DSCC-DWG-05013-2006 外部贴装,TTL与CMOS兼容,3.3伏特,312KHZ至170兆赫,可三态晶体控制振荡器DLA SMD-5962-86702 REV A-2002 硅单块四绕组自记器,电晶体逻辑线路肖脱基低功率数字微型电路DLA SMD-5962-98621-1998 微型电路,数字型,混合型的CMOS,晶体石英生成器,单块硅DLA DESC-DWG-85141 REV B-1993 可兼容的电晶体逻辑线路14引脚浸兼容可延迟3个单位的延迟线DLA DESC-DWG-85019 REV D-1993 16引脚兼容电晶体逻辑线路界面3位可编程延迟线DLA DESC-DWG-84087 REV H-1992 14引脚浸兼容电晶体逻辑线路界面接口,1至5脉冲线延迟线印度尼西亚标准,关于晶体 焓的标准 SNI 3140.1-2008 糖晶体. 第1部分:原糖国家军用标准-国防科工委,关于晶体 焓的标准 GJB 2138.1-2007 JA533型石英晶体谐振器详细规范GJB 2138.3-2007 JA557型石英晶体谐振器详细规范GJB 2138.2-2007 JA547型石英晶体谐振器详细规范GJB 2138/1-2007 JA533型石英晶体谐振器详细规范GJB 2138/2-2007 JA547型石英晶体谐振器详细规范GJB 2138/3-2007 JA557型石英晶体谐振器详细规范GJB 5971-2007 10MHz~100MHz带通单片石英晶体滤波器规范美国机动车工程师协会,关于晶体 焓的标准 SAE ARP 1947B-2007 航空器结构质量D357型铝合金铸件枝状晶体分支间距的测定和验收(美国)福特汽车标准,关于晶体 焓的标准 FORD ESF-M99D48-A-2006 抗燃料腐蚀的聚丙烯(PP)/聚异质同晶体纤维挤塑成型料国家计量检定规程,关于晶体 焓的标准 JJG 181-2005 石英晶体频率标准JJG 809-1993 数字式石英晶体测温仪检定规程JJG(轻工) 76-1991 SCI.327石英晶体阻抗计SPM.327PPM计数器检定规程JJG(电子) 04020-1989 高频中小功率晶体三极管噪声系数计量专用样管检定规程JJG(电子) 04025-1989 Q04型中小功率晶体三极管开关参数计量标准装置检定规程JJG(电子) 04026-1989 BJ2985型晶体三极管维持电压测试仪检定规程JJG(电子) 04022-1989 Q01型高频小功率晶体三极管Ft计量标准装置检定规程JJG(电子) 15003-1988 3280型射频晶体标志信号发生器试行检定规程JJG(电子) 04016-1988 BJ2984(QR-3)型晶体三极管瞬态热阻测试仪试行检定规程JJG 516-1987 BJ2920(HQ2)型数字式晶体三极管综合(直流)参数测试仪检定规程JJG(电子) 04009-1987 BJ2983型晶体三极管正偏二次击穿测试仪试行检定规程行业标准-海军,关于晶体 焓的标准 HJB 302.18-2004 核潜艇航海装备修理技术标准100B型晶体石英钟贵州省地方标准,关于晶体 焓的标准 DB52/ 455-2004 辣椒素晶体 行业标准-卫生,关于晶体 焓的标准 WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致眼晶体剂量估算规范行业标准-商品检验,关于晶体 焓的标准 SN/T 0735.2-1997 出口芳香油、单离和合成香料熔点的测定方法.晶体类行业标准-航天,关于晶体 焓的标准 QJ 2979-1997 XJ33型石英晶体元件详细规范QJ 2929-1997 XJ42型石英晶体元件详细规范QJ 2981-1997 XJ39型石英晶体元件详细规范QJ 2980-1997 XJ36型石英晶体元件详细规范QJ 2930-1997 XB87型高精密石英晶体元件详细规范QJ 2978-1997 XJ17型石英晶体元件详细规范QJ 1111.1-1990 2JB2-3型有可靠性指标的晶体罩磁保持继电器QJ 2931-1997 XB07精密石英晶体元件详细规范美国电子元器件、组件及材料协会,关于晶体 焓的标准 ECA 192-A-1967 石英晶体元件的外形和插脚连接台湾地方标准,关于晶体 焓的标准 CNS 13624-1995 砷化镓晶体结晶完整性检验法(熔融氢氧化钾浸蚀法)CNS 12256-1988 石英振荡晶体用恒温箱CNS 12253-1988 振荡器用石英振荡晶体(1MHz~125MHz用)CNS 12254-1988 振荡器用石英振荡晶体(200KHz~1000KHz用)CNS 12257-1988 晶体滤波器CNS 11624-1986 无线电机振荡用CR–84/u石英晶体CNS 1996-1978 化学试药(氯化锡,晶体)(四氯化锡晶体)美国通用公司,关于晶体 焓的标准 GM 9984415-1994 磷酸锌系统的晶体细化剂行业标准-航空,关于晶体 焓的标准 HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法丹麦标准化协会,关于晶体 焓的标准 DS/IEC 122-2-1:1993 频率控制和选择用石英晶体元件.第2部分:频率控制和选择用石英晶体元件使用指南.第1节:微处理器时钟发生器用石英晶体元件DS/IEC 122-3:1992 国际电工委员会IEC标准No.122-3-1977以及附录No.1-1984 + 附录No.2-1991频率控制和选择用石英晶体元件.第3部分:标准外形和引线连接美国电气电子工程师学会,关于晶体 焓的标准 IEEE 1160:1993 辐射探测器用高纯锗晶体试验程序欧洲电工电子元器件标准,关于晶体 焓的标准 EN 169000-1992 总规范:石英晶体控制振荡器EN 168101-1992 空白详细规范.石英晶体部件(性能认可)EN 168201-1992 空白详细规范.石英晶体部件(质量认可)国家建筑材料工业局,关于晶体 焓的标准 JC 471-1992 光敏探测器用人造石英晶体片(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于晶体 焓的标准 JEDEC JES2-1992 电晶体,砷化镓场效应晶体管,总规范JEDEC JESD4-1983 晶体闸流管和整流二极管的分离半导体封装的外部清洁度和漏电距离的定义(美国)海军,关于晶体 焓的标准 NAVY A-A-51445-1986 晶体一次性试剂盒NAVY MIL-T-17642-1953 TS-752/ASB-1制造规格晶体测试装置美国航空工业协会/国家航天工业标准,关于晶体 焓的标准 AIA/NAS NAS 67-1973 (Rev. 4)Dzus型通风帽低温型晶体钮扣指南AIA/NAS NAS 69-1947 (Rev. 1)交错柳钉孔Dzus型通风帽低温型晶体钮扣指南(美国)电子工业联合会,关于晶体 焓的标准 EIA RS-192-A-1967 石英晶体元件的外形和插脚连接


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